晶體管芯電參數(shù)測試儀與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。

產(chǎn)品型號(hào)：DL19-ST-102B

更新時(shí)間：2025-01-31

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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探針測試臺(tái) 中測臺(tái) 點(diǎn)測機(jī) 晶體管芯電參數(shù)測試儀 集成電路芯片電參數(shù)檢測儀

型號(hào)DL19-ST-102B

DL19-ST-102B型探針測試臺(tái)（英文叫Proberstation,中文又稱中測臺(tái),點(diǎn)測機(jī)。)、與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。

技　術(shù)　指　標(biāo)：

工作臺(tái)面370mm*245mm

載物臺(tái)直徑4"

光學(xué)參數(shù)總放大率：21-135倍；手輪調(diào)焦范圍：60mm；升降調(diào)焦范圍：200mm；

精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)粗調(diào)范圍：360°；微調(diào)范圍：±10°；最小刻劃：1°；

銅盤直徑：Φ85mm；絕緣盤直徑：Φ102mm

三維探針座探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍：±3.25mm，分辨率±2μ；

三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定，由磁性開關(guān)控制；

最多可布三維探針座6個(gè)；

探針臂伸出長度：60mm；

探針長度：40mm；

探針探針材質(zhì)硬質(zhì)合金，針尖曲率半徑2μm；

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